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  • GT-BIT-45H格特電子負載高溫老化房
    GT-BIT-45H格特電子負載高溫老化房

    格特電子負載高溫老化房一種專(zhuan) 門設計的測試設備,用於(yu) 模擬高溫、惡劣環境條件,並通過加載一定的負載或工作條件,使產(chan) 品在模擬環境中進行長時間的老化測試。在高溫環境下對電子產(chan) 品進行負載測試。

    更新日期:2025-01-03型號:GT-BIT-45H
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